数字式涂层测厚仪 HC200

参考信息

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HC200数字式涂层测厚仪

功能用途

HC200数字式涂层测厚仪是磁性、涡流*体的便携式涂层测厚仪,它能快速、无损伤、*密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、*工业、商检等检测*域。是材料保护专业*备的仪器。

HC200数字式涂层测厚仪 主要特点

u**了磁性和涡流两种测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚;

u具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

u具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(App1);

u设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);

u可**两种方法对其进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

u具有存贮功能:可存贮500个测量值;

u具有删*功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删*,可也删*存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;

u可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对*批测量值进行分析;

u具有打印功能:可打印测量值、统计值、限界、直方图;

u具有与PC机通讯的同能:可将测量值、统计值传输*PC机,以便对数据进行进*步处理;

u具有电源欠压指示功能;

u操作工程有蜂鸣声提示;

u具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;

u设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;

三、规格参数

测头类型FN

工作原理磁感应涡流

测量范围0~1250μm0~1250μm

铜上镀铬(0~40μm)

低限分辨率0.1μm(0-100)/1μm(100-1250)0.1μm(0-100)/1μm(100-1250)

示值误差*点校准±(3%H+1)±(3%H+1.5)

二点校准±[(1~3%)H+1]±[(1~3%)H+1.5]

测试条件基体*小曲率凸面:1.5mm/凹面:3mm凸面:1.5mm/凹面:3mm

基体*小面积Φ7Φ5

基体*小厚度0.5mm0.3mm

四、探头选用参考表

基体覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂料塑料、搪瓷和阳**处理等)非磁性的有色金属覆盖层如:铬、锌、铝、铜、锡、银等

如铁、钢等磁性金属F型探头

测量范围:0μm~1250μm

F型探头

测量范围:0μm~1250μm

如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属N型探头

测量范围:0μm~1250μmN型探头仅用于铜上镀铬

测量范围:0μm~40μm

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