涂层测厚仪 QuaNix4200

参考信息

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德国尼克斯QuaNix4200涂层测厚仪

简介及特点:

德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯(Dr.Nix)博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自发明世界上第一台测厚仪以来,尼克斯家族经过几代人的努力,为测厚仪领域做出了杰出贡献。同时,也保持了技术领先。在仪器的精度和抗干扰性方面,注册了多项专利。成为当今涂层测厚仪的独特优点。

零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。

无需校准:多数测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。

温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。

红宝石探头:探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。

独特的直流采样技术:使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。

单探头量程大:0-5mm。

技术参数:

型    号	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基    体	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探头形式	一体				一体、分体	无线分体
显    示	LCD数字显示
测量范围	0-3000μm	Fe:0-3000μm NFe:0-2000μm	0-2000μm	0-5000μm	0-2000μm 0-5000μm	0-5000μm
测量精度	0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%, 2000-5000μm≤±3%
显示精度	1μm		0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
工作温度	-10 -+60℃
温度补偿	0-50℃
存    储	-			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900个测量值,999个数据组
数据传输	-			RS232打印、电脑
统计功能	-			平均值、*大值、*小值、标准偏差
超限报警	-					上下限
*小基体	10mm×10mm
*小曲率	凸、凹半径:3mm/25mm		凸半径:5mm,凹半径:25mm
*薄基体	Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
电    源	5号电池2节		9V碱性电池1节			5号电池2节
重    量	110g		130g		150g	130g
尺    寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm

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