作物冠层分析系统 Sunscan

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通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）；SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

根据冠层吸收的Beer法则（Beer's law for canopy absorption）、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell's Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

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