脉冲光纤激光器 G3

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光刻胶紫外曝光测量 IL1741/IL1441

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激光光束分析仪 BeamScope-P8

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闪灯光度测量系统 IL 1711

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激光扫描平场透镜 F-Theta

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半导体激光器 LDL型

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光度测量系统 IL 1710

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光辐射测量系统 IL 1705

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光刻胶紫外曝光测量 IL1740-B/IL14

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光刻胶紫外曝光测量 IL1740-A/IL1

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可见波段半导体激光器 连续激光器

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光辐射测量系统 IL 1705

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多通道光度计 Gigahertz

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半导体泵浦激光模块 RB Plus YLF系列

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半导体泵浦激光模块 REA PowerPULSE

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半导体激光器阵列 Hermes系列

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半导体激光器阵列 DLAM系列

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激光扫描控制箱 Maestro 3000

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激光偏振照相应用 SAMBA HAIR SYST

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激光超声测量 TEMPO

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台式激光雕刻/切割系统 Desktop la

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中红外激光探测器 Mid-infrared la

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中红外(MIR)激光器 Mid-infrared

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半导体激光器阵列 INSlam系列

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激光束传输类器件 HAAS

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半导体激光模块 LDM

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纳米颗粒分析仪 LM10-HS

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超高亮度直接发光二极管激光器 T系

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超高亮度直接发光二极管激光器 B系

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钨灯光源 BIM-6201

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激光光束分析监测器 HASS

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光束分析仪 BWA-MON

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紫外可见分光光度计 Cary 60

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紫外-可见分光光度计 Cary 100

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紫外-可见-近红外 Cary 6000i

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通用型分光光度计 (UMS) Cary 7000

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紫外-可见分光光度计 Cary 300

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紫外-可见分光光度计 Cary 4000

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紫外-可见-近红外分光光度计 Cary 5

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紫外-可见二极管阵列系统 Cary 845

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