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SYNAPT G2-Si HDMS

重新定义分辨率——三维分辨率

信息。信息学。影响力。通过独一无二的质谱性能、行业领先的信息学和无与伦比的平台通用性，SYNAPT G2-Si可以对复杂混合物和分子进行详尽表征。

• 利用高效T-Wave IMS实现卓越的分离

• 极佳的UPLC/MS/MS性能

• 数据独立型和数据依赖型T-Wave IMS解决方案

• CID与ETD碎裂功能

• 多种实验类型选择

利用高效T-Wave IMS实现卓越的分离 保留。迁移。质量。某些情况下，色谱和质量数分辨率还不能满足要求。借助高效T-Wave离子淌度技术，您可以在分子大小和形状的基础上获得另一个分离维度。利用分子碰撞截面特性这一项独特的功能，可以提供*高水平的选择性、特异性、灵敏度和结构分析。其优点还包括同分异构体分离、消除干扰、生成更干净的谱图，以及更准确地识别化合物ID。

极佳的UPLC/MS/MS性能 将StepWave和UPLC分离与定量飞行时间（QuanTof）技术相结合，实现*高的峰容量和数据质量。StepWave是目前*灵敏和*可靠的离子源，具有“主动”选择离子和“被动”防止中性污染物的独特功能。 与其他所有质谱分析器不同，QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围（谱图内和定量）和m/z范围，并且都可以在*快的采集速率实现，即便是对于高基质负荷的样品也是如此。

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数据独立型和数据依赖型T-Wave IMS解决方案 无与伦比的适用范围和效率，适用于复杂混合物的分析。通用型UPLC/HDMSE采集技术可以记录每个可检测的分子离子的碎片离子数据，与其它“数据独立型分析”（DIA）技术相比，具有卓越的占空比；同时我们的HDMS信息学技术可以为各种各样的应用提供精简的数据分析流程。 要想获得更高效、更有效的靶向MS/MS，请选用启用T-Wave IMS的工作流程。提高MS/MS灵敏度，利用HD-DDA（数据引导分析）在研发实验中实现更高的覆盖；并结合HD-MRM，使用靶分子的任何碎片来获得更低的定量限。

CID与ETD碎裂功能 TriWave的双碰撞室结构可提供碰撞诱导解离（CID）和/或电子转移解离（ETD）碎裂，并且同时得到高分辨率和精确质量数，从而获得更好的MS/MS检测结果。高解析度四极杆包括4KDa、8KDa或32KDa质量数范围，适用于从小分子到大分子的MS/MS测定。

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多种实验类型选择 沃特世的离子源结构可与各种技术相结合：对于分离，可结合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2；对于电离，可结合ESI、APCI、APPI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它们可快速互换，在几分钟内即可使用。 对于直接进样分析方法，T-Wave IMS可提供*佳的电离后选择性与特异性。在与高性能可以与大气压离子源快速切换MALDI选件结合时，这一点具有非常明显的优势。

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