3D 表面轮廓仪 LV150

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LV150可满足高精度的测量要求，既适用在研究单位，也适用在工业化生产单位。它可以完成粗糙度、体积、纳米尺度下的深度测量，由于采用独特的非共聚焦成像技术，在保证高精度的前提下降低了对环境震动的要求。该型号测量范围250um，更适用于小样品的测量。

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