Zeta电位及纳米粒度分析仪 Nanotrac wave

参考信息

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仪器简介：

纳米粒度测量——*新动态光背散射技术

随着颗粒粒径的减小，例如分子*别的大小，颗粒对光的散射*率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司*直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的*锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 UPA（UltrafineParticle Analyzer）研发成功，*次引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗*动而产生频率变*的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和异相多谱勒频移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技术，结合动态光散射理论和**的数学处理模型，NPA150/250将分析范围延伸*0.8nm-6.5μm,样品浓度更可*达*分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术**可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗*动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度*出几个数量*。另外，**“Y”型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，*大的减少了背景噪音，提*了仪器的分辨率。

技术参数：

粒度分析范围: 0.3nm-10μm

重现性：误差≤1%

浓度范围：ppb-40%

检测角度：180°

分析时间：30-120秒

准确性：全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子

测量*度: 无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果

理论设计温度：0-90℃，可以进行程序升温或降温

兼容性：兼容**有机溶剂及大多数酸性或碱性溶液

测量原理：

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理

分子量测量：水力直径或德拜曲线

**技术：膜电*，微电场电势测量，“Y”型光纤探针设计，异相多普勒频移，可控参比方法，快速傅立叶转换算法，非球形颗粒校正因子

光学系统：

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二*管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统：

**的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性*输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分*分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11**要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。

外部环境：

电源要求：90-240VAC，**，50/60Hz

环境要求：温度，10-40°C

相对湿度：小于95%

配置：

有内置和外置光纤测量探头可选

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