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涂层测厚仪 CTY2200
覆层测厚仪 UT341
双基涂层测厚仪 WH82
单基涂层测厚仪 WH81
测厚仪 DT-156H
主机型号MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740探头类型内置外置内置外置可换数据记忆组数1010100存储数据量*多10,000个*多10,000个*多100,000个统计值读值个数、*小值、*大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)校准程序符合国际标准和规范ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准校准模式出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值极限值监控声、光报警提示超过极限测量单位μm,mm,cm;mils,inch,thou操作温度-10℃~60℃存放温度-20℃~70℃数据接口IrDA 1.0(红外接口)电源2节AA电池标准DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840ASTM B244,B499,D7091,E376AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2体积157mm x 75.5mm x 49mm重量约175g约210g约175g(内置)/230g(外置)探头探头特性F1.5,N07,FN1.5F2F5,N2.5,FN5F15FNFFNF测量范围0~1.5mm0~0.7mm0~2mm0~5mm0~2.5mm0~15mm使用范围小工件,薄涂层粗糙表面标准探头,使用广泛厚涂层测量原理磁感应电涡流磁感应磁感应电涡流磁感应信号处理探头内部32位信号处理(SIDSP)精确度±(1μm+0.75%读值)±(1.5μm+0.75%读值)±(5μm+0.75%读值)重复性±(0.5μm+0.5%读值)±(0.8μm+0.5%读值)±(2.5μm+0.5%读值)低端分辨率0.05μm0.1μm1μm*小曲率半径(凸)1.0mm1.5mm5mm*小曲率半径(凹,外置探头)7.5mm10mm25mm*小曲率半径(凹,内置探头)30mm30mm30mm*小测量面积Φ5mmΦ10mmΦ25mm*小基体厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm连续模式下测量速度每秒20个读数单值模式下*大测量速度每分钟70个读数