倒置微光显微镜 iPHEMOS-TP

参考信息

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• 高精度级的多相机平台

• 灵活的系统设计

• 多种探测器，可观测低压工作IC

• 倍率从1×到100×，多种镜头可选（可选配10镜头转台）

• 背面观测探针可测量从整个300mm晶片到单个die的范围

• 简化了测试机头对接，便于动态分析

• 用户友好型操作系统

• 易于升级，有利于后期应用

• 高分辨率模板图像 

-----------以上信息仅供参考不作为下单依据------------
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