分析天平 XSE 205DU

参考信息

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规格 - XSE 205DU 分析天平

*大秤量81 g/220 g

可读性0.01 mg;0.1 mg

重复性（典型）0.01 mg

*小称量值 (USP)，典型值20 mg

稳定时间1.5 s

线性误差（典型值）±0.2 mg

重复性（校验砝码）0.02 mg (10 g)

校正内部 / proFACT 高级版

尺寸 (高x宽)322 mm x 263 mm

外壳压铸铝合金

秤盘外形尺寸(深x宽)78 mm x 73 mm

贸易结算No

物料号 (s)30087732

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