光纤光谱仪系统 Mexpert

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Mexpert^TM系列产品是世界领先的多功能全光谱薄膜测试系统，专门用于测量半导体、光学镜片等各类样品薄膜的多种光学指标，如：透射率、反射率、薄膜厚度以及雾度等。内建光源，专用三维样品台，显微聚焦功能和精确顶点定位机制。标准USB2.0/1.1接口，专用反射率检测软件，既可适合小面积曲面和平面样品反射率检测，又有外接探头选项可以现场检测大面积高曲率等特殊界面。

Mexpert^TM系列的薄膜测试基于白光反射及干涉原理，它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，再运用专业的应用软件运算得到薄膜材料的厚度d，折射系数n，消光系数k。

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