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德国布鲁克AXS公司,现属于上市公司布鲁克集团(NASDAQ:
BRKR),1997年以前为西门子X射线分析仪器部。她完全继承和延续了西门子X射线分析仪器的研发、生产、销售及售后维护体系。几十年来,她一直引领X射线分析仪器的潮流。布鲁克AXS公司微分析部具有44年能谱仪研发、生产、销售和维护历史,并开创微分析之先河――全球首创电镜用电制冷能谱仪,并将之推广,为用户提供了更好的微分析工具。秉续13年电制冷能谱仪商用经验,承载3,000多台套电制冷能谱全球用户的殷切希望,作为电制冷能谱仪技术领域领跑者的布鲁克AXS将一直以优异的性能、卓越的稳定性及全面的技术支持,不断超越用户的需求。如果你需要X射线显微分析的宣传资料,请联系我们索取信息。
X射线显微分析是一种在电子显微镜中经常用到的测量固体样品、薄膜、微粒化学成分的分析技术。该技术应用一种能量色散X射线光谱仪(EDS)能同时探测和分析低至Be的所有元素。该技术从一个微米级的样品区域获得元素信息,提供低至0.1%质量百分数的检出限,这些特性使得X射线显微分析成为*灵敏的分析方法之一。
布鲁克电制冷能谱仪独一无二的X-Flash? 硅漂移探测器(SDD)与顶级的Hybrid 脉冲处理技术相结合能获得*佳的能量分辨率和比常规Si(Li)探测器快十倍的测量速度。
布鲁克电制冷能谱仪配有界面友好、功能强大的ESPRIT软件。该软件标配中、英文界面。应用该软件可进行无标样定量分析,和有标准定量分析,或二种方法结合使用。另外,还可进行点、线、面分析,线扫描,面分布,超级面分布,相分析,颗粒分析,钢铁分析,枪击残留物分析等等。
QUANTAX ESPRIT软件包
直观的图形用户界面显示了所有对分析者而言重要的信息,分析人员一目了然,并可以立即进入*常用的功能。
简单的操作理念和直观的向导,集成的 "助手"功能,完整的在线帮助,使初学者能很快熟悉分析系统。
该软件交互式、循序渐进式的谱图评价程序对分析者而言尤其重要,尤其是对于非常复杂的分析任务来说。
而且,该软件包集成了全球*新修订扩展的原子数据库,一些重要的基本参数有助于提高定性和定量分析的精度。
该分析软件的高效性、灵活性和透明性使用户能很快信服并对之满意。
技术参数:
QUANTAX系列探测器种类:
X-Flash? SDD硅漂移探测器
X-Flash
SDD硅漂移探测器―――开创一个新纪元
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具有无液氮、高分辨率、高输出计数率三大特点。
* X-Flash?
是首个商用的SDD探测器,布鲁克ASX公司是SDD技术领域的领跑者,现在已经发展到第五代,目前在世界范围内拥有大量的用户。
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采用二级Peltier效应的电致冷方式保证探测器长期稳定工作,而不需要任何制冷剂和外部制冷设备,同时也避免了其他机械制冷方式可能引起的振动。
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X-Flash?
的能量分辨率指标在1000cps~100,000cps的输入计数率条件下,可以保持在Mn元素Ka分辨率≤123eV,F元素分辨率≤54eV,C元素分辨率≤46eV,这一革命性的123eV分辨率使X-Flash?
SDD探测器在轻元素的探测和定量分析方面具有显著的优势。
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即使是在非常高的输入计数率情况下,X-Flash? 仍然具有很高的分辨率,因此在进行面扫描时,采用X-Flash?
比采用常规的Si(Li)探测器节省几个量级的时间。
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绝对无振动,具有低的维护和操作费用,体积小、重量轻。
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采用混合脉冲信号处理器使得本系统可处理更高的计数率。*大输入计数率达1000,000cps,*大输出计数率达400,000cps。
ESPRIT分析软件界面友好,操作简便
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具有包含XPP特例的P/B(ZAF)方法的无标样定量分析功能可对粗糙、颗粒等不同表面形貌样品进行精确的定性定量分析。
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ESPRIT分析软件具有*丰富的原子信息数据库,这可以大大提高仪器的元素鉴别能力和重叠峰剥离能力,使得定量分析变得更加精确可靠。
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根据韧致辐射的物理模型计算背底,OLeQ分析功能可大大提高轻元素定量分析的准确性。
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提供更快速和准确的实时线扫描和面扫描分析功能,对元素种类和数目无限制并可达到65536种颜色的面扫描效果。
QUANTAX系列探测器的接口是针对每一款电镜单独定制的,因此可以适用于各种型号和品牌的SEM、TEM、EPMA、AES等,并且能够达到*优化的立体角和检出角。