X荧光光谱仪 EDX 6800

参考信息

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技术参数：

测试对象：粉末、固体、液体

分析元素范围：Na-U

测试时间：100-200S

管压：10KV-50KV

管流：50uA-1000uA

*佳分辨率：139±5ev

*低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1PPm pb≤2ppm Ci≤5ppm

输入电源：AC220V±10%，50Hz（建议配置净化稳压电源）

额定功率：300W(包含电脑）

环境温度：15℃-28℃

环境温度：40%-70%

样品腔尺寸：450mm*350mm*100mm

外形尺寸：660mm*500mm*330mm

重量：62Kg

l 主要性能优势：

集合了多年RoHS检测经验，模块化的功能设计理念，便于应对指令进行、检测元素内容的升级；更为精巧的工艺，实现小体积的检测；更智能、方便的测试分析软件，操作人性化、功能强大化；

全光路射线防护系统配合经典的三重安全防护审计，同时采用软、硬件双重安全连锁，确保辐射安全性能。

 

 仪器配置：

   X荧光光谱仪专用光管

   高分辨率电制冷半导体探测器

   高压电源

   光管散热系统，光路优化系统及复合滤          

   光处理系统

   内置高清晰CCD摄像头

   自动切换的准直器和滤光片

   三重安全保护模式

   标样

   计算机

   打印机

 

l 主要应用优势：

     提供开放性工作曲线功能，根据企 业物 料情况量身定做*好的有害元素检测和控制方案；独有的光管散热系统，大大延长X光管的寿命，降低使用成本。多种准直器和滤光片自动切换，满足了不同样品的测试，实现了全自动一键测试。

 

l 解读RoHS指令和WEEE指令

2003年2月13日，欧盟官方公布了《关于报废电子电气设备的指令》（2002/96/EC，简称WEEE）和《关于电子电气设备中限制使用某些有害物质的指令》（2002/95/EC，简称RoHS），规定从2005年8月13日起实施WEEE的生产者责任，从2006年7月1日起在相关电子电器中禁止使用六种有害物质。

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