光学接触角形貌联用仪 3D Topography Module

参考信息

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技术指标

硬件

尺寸: 7 cm x 16.5 cm x 11.5 cm

重量: 2.6 kg

电压: 100…240 VAC

频率: 50-60 Hz

系统要求

计算机：2G处理器，2G内存，40G硬盘（20G空闲），1024x768分辨率，2个USB口，1个火线接口或1个PCI插槽；

推荐使用防震台或大理石实验台；

要求配置：XYZ全自动样品台；

其他指标

方法名称：基于条纹投影相移原理

XY像素大小: 1.1 μm x 1.1 μm

Z方向测量范围: 1 μm – 60 μm

横向采样: 1.41 mm x 1.06 mm (XY). (图像粘贴选项： 4.2 mm x  4.2 mm)

工作距离:18 mm

样品台上的*大样品尺寸: Unlimited x 180 mm x 22 mm (L x W x H)

成像选项: 光学图像, 2D粗糙度图, 3 D粗糙度图

每个实验的测量时间：5-30 s (1280 x 960，实验点)

分析参数(ISO 4287, ISO 4288):

r (Wenzel 方程)

θc, 粗糙度校正接触角/Wenzel接触角

Sdr (%), Sa (um), Sq (um)

水平、垂直和  2D 线形区域的Ra, Rq,

Rp, Rv, Rz, R10z

波纹过滤：高斯高通滤波器（ISO 11562）

样品要求/局限性：需要漫反射样品

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