冷场发射透射电镜 JEM-F200

参考信息

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2016年1月，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。

JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点如下：

（1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受；

（2）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS；

（3）电镜光源：冷场发射光源比其他电镜使用的肖特基热场发射光源能量发射度小，在TEM成像时相干性更好，图像质量大大提高；

（4）聚光镜汇聚方式：新电镜采用四级聚光镜且亮度及会聚焦分开控制，很容易获得追加实验条件，避免了传统的聚光镜亮度与会聚焦同时控制，有时会相互干扰，无法达到*佳状态。

（5）物镜汇聚方式：物镜上采用扫描方式，可以获得大范围的STEM-EELS

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