荧光镀层测厚仪 CMI900X

参考信息

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• 精度高、稳定性好

• 强大的数据统计、处理功能

• 测量范围宽

• NIST认证的标准片

• 全球服务及支持

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统	*多可同时装配6种规格的准直器
	多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，*小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
	在12.7mm聚焦距离时，*大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室	CMI900	CMI950
样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
*大样品台尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选	300mm x 300mm
Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
样品观察系统	高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
	激光自动对焦功能
	可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置	IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件	操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包
测厚范围	可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析	采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
	样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
	可检测元素范围：Ti22 – U92
	可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
	贵金属检测，如Au karat评价
	材料和合金元素分析，
	材料鉴别和分类检测
	液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
	多达4个样品的光谱同时显示和比较
	元素光谱定性分析
调整和校正	系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
测量自动化	鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
	多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
	测量位置预览功能
	激光对焦和自动对焦功能
样品台程控	设定测量点
	连续多点测量
	测量位置预览(图表显示)
统计计算	平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
	任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
系统安全监测	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

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