荧光金属镀层测厚仪 XRF-2000L

参考信息

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应用 :

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。

行业 :

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

特色 :

非破坏，非接触式检测分析，快速精準。

可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。

全系列独特设计样品与光径自动对準系统。

标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。

準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。

移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。

独特2D与3D或任意位置表面量测分析。

雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。

光学2 0X 影像放大功能，更能精确对位。

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。

优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*佳优势。

仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。

测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

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