光学三维轮廓仪 NanoMap-D

参考信息

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公司简介:

aep Technology**材料表面形貌测试测量未来。长期致力于材料表面形貌及外形轮廓的测试研究，**的三维成像技术更带您进入材料表面的三维图像**，观察表面的每*个细节， 生成*密的图像数据，揭示材料表面的真实形貌。结合*密的分析测试软件，为您进行的**研究提供援助，协助您创造更多的价值。

 

产品介绍：

NanoMap系列产品可广泛的应用于材料科学、薄膜涂层、生物、*工、石油、微电子、微型传感器、半导体材料、自动控制、航空航天、汽车工业及机械工具的材料研究和开发。NanoMap - D产品兼备接触式（探针扫描轮廓仪）及非接触式（白光干涉轮廓仪）的优点于*身的三维表面形貌测量设备。适用全材料体系测量，几乎可以接纳**材料表面，包括水、油到碳。

 

应用：

三维表面轮廓测量和粗糙度测量， 即适用于*密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。

薄膜和厚膜的台阶*度测量。

划痕形貌， 磨损深度、宽度和体积定量测量。

空间分析和表面纹理表征。

平面度和曲率测量。

二维薄膜应力测量。

微电子表面分析和 M E M S 表征。

表面质量和缺陷检测。

 

环境要求：

湿度： 10 - 80% ，相对湿度，无冷凝

温度： 65 - 85华氏度（△ T ＜ 1 度/ 小时）

电源要求： 110 / 240 V ，50 / 60 Hz

 

*清图像

2维、3维的直方图等视图

白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件，通过设置*些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图（例如直方图及雷达图等）

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