NIR光谱椭偏仪 SE805

参考信息

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光谱范围: 700 nm - 1700 nm 

　　SE 805是近红外光谱椭偏仪，是在近红外波段基于快速干涉调制探测的高性能光谱椭偏仪。SE 805使用步进扫描分析器方式，调制光的强度在固定的分析器位置被测量，使用宽带固体探测器。 

主要应用 

　　·测量单层膜或多层膜的厚度和折射率 

　　·在近红外波段测量材料的光学性质 

　　·测量厚度梯度 

　　·确定材料成分 

　　·分析较厚的膜，厚度范围可到30微米 

　　·适合测量In搀杂的半导体材料 (InP, InGaAs, InGaAlAs, InN) 

选项 

　　·近红外光谱扩展选项，700 - 2300 nm 

　　·计算机控制高性能消色差补偿器 

　　·计算机控制起偏器 

　　·计算机控制自动角度计, 40o-90o, 精度0.01o 

　　·手动x-y载物台，150 mm行程 

　　·电机驱动x-y载物台，行程50 mm - 200 mm, SENTECH地貌图扫描软件 

　　·透射测量样品夹具 

　　·摄象头选项，用于样品对准和表面检测 

　　·液体膜测量单元 

　　·反射式膜厚仪FTPadvanced, 光斑直径80微米 

　　·微细光斑选项 

　　·自动对焦选项，结合地貌图扫描选项 

　　·SENTECH标准样片 

　　·附加许可，使 SpectrRay II软件可以用于多台电脑 

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