多角度激光椭偏仪 SE400adv

参考信息

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　多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜，多层膜和大块材料（基底） 
? 超高精度和稳定性，来源于高稳定激光光源、温度稳定补偿器设置、起偏器跟踪和超低噪声探测器 
? 高精度样品校准，使用光学自动对准镜和显微镜 
? 快速简易测量，可选择不同的应用模型和入射角度 
? 多角度测量，可完全支持复杂应用和精确厚度 
? 全面的预设应用，包含微电子、光电、磁存储、生命科学等领域 

规格: 
? 激光波长632.8 nm 
? 150 mm (z-tilt) 载物台 
? 入射角度可调，步进5o 
? 自动对准镜/显微镜，用于样品校准 
? Small footprint 
? 以太网接口连接到PC 

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