自动测量光谱椭偏仪 SENDURO

参考信息

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SENDURO?, 革命性的光谱椭偏仪 

优势: 
　　? 高测量速率 
　　? 全自动样品校准 
　　? 可测量透明和吸收基底 
　　? 按键式操作 
　　? 友好的软件界面 
　　? 高测量精度 
　　? *简化安装过程 

分析一个样品的时间只需不到10秒钟，这个时间包括了所有必要的步骤： 
　　? 放置样品 
　　? 点击开始测量按钮，进行如下步骤 
　　　　o自动样品校准 
　　　　o测量数据 
　　　　o计算 
　　　　o输出结果 
　　? 取出样品 

　　SENDURO把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来，样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和精确性。已获得专利的自动样品对准装置能够显著减少操作失误；能够工作于透明或反射基底；能够进行地貌图测量，包括翘曲晶片。 

　　SENDURO自带全面的预先定义的能够进行多层膜分析的应用库。SENDURO的智能自动建模功能能够在测量时正确识别样品的结构。 

　　SENTECH′s SENDURO? 软件能够测量单层膜和多层膜的厚度和折射率。全部操作在出色的操作向导指引下完成，可将操作者的对测量结果的影响减至*小。软件提供大量测量应用作业库，包含自动样品校准、快速测量数据、拟合、结果报告等全部步骤。 

　　The SENDURO? 操作软件带有强大的分析工具，如自动建模、卓越的结果输出功能、广泛的可针对用户定制的材料和膜层数据库，可轻松更改现有的或创建全新的测量应用程序。软件包含建模、仿真、拟合等功能，可出色完成对复杂样品的分析。密码控制用户管理支持多用户，并保证数据安全。 

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